异频介质损耗测试仪可以帮助众多电力工作者更加方便的进行各类电力测试。
HMJS-III高压介质损耗测试仪
电力电容器是实际的电容器，而不是理想的电容器。在外部交流电压的作用下，除了输出一定容量的无功功率Q外，在电容器的内部介质中，在电容器的板（铝箔）中，引线等导体和瓷瓶之间的漏电流中会产生一定量的有功功率损耗P。
通常，电容器的有功功率P与无功功率Q之比称为电容器的损耗角正切，用下式表示：
tanδ=P/Q
在公式中：tanδ-电容器的损耗角正切（%）;
P-电容器的有功功率（W）;
Q-电容器的无功功率（var）。
介损角（介电损耗角）是反映高压电气设备绝缘性能的重要指标。介电损耗角的变化可以反映绝缘中的受潮、劣化或气体放电等绝缘缺陷。因此，测量介电损耗角是研究绝缘老化特性和在线监测绝缘条件的重要组成部分。
电容设备的绝缘结构通常由多种绝缘材料组成。电气设备内部绝缘介质分为三大类，其中液体介质包括变压器油、电容器油等;固体介质包括云母、电瓷、玻璃、硅橡胶等;气体材料包括六氟化硫等。在电场的作用下，绝缘介质中会发生极化、电导和损耗等物理现象。介电损耗是绝缘设备在电场作用下造成的能量损耗。消耗的能量转化为热能，导致绝缘材料的温度升高。当温度过高时，会导致绝缘材料老化和变质。绝缘介电损耗主要分为三种类型：极化损耗、离子损耗和电导损耗。
Tanδ称为介电损耗角的正切。它是交流电压下电介质中有源元件与电抗元件的比值。它是一个无量纲数，反映了电介质中每单位体积的能量损失。
介电损耗与施加的电压、工频、介电电容C和介电损耗因数tanδ成正比。但是，使用介电损耗P来表示介质的质量是不方便的，因为P值与测试电压和介质尺寸（形状，尺寸，厚度等）等因素有关，并且难以比较不同的设备，因此无法准确确定。反映电介质的绝缘条件。当施加的电压和频率恒定时，介电损耗仅与介质的等效电容和介电损耗因数有关。对于一定的结构和形成的电介质，等效电容是一个固定值，因此tanδ充分反映了介电损耗情况，可用于评价高压电力设备的绝缘等级，它是一个物理量，仅取决于材料的特性，与材料的尺寸无关。因此，在工程中，介电损耗角的切线tanδ值用于判断介质的质量并表征电介质的损耗。
检测的意义
通过测量介电损耗角的切线值，可以反映一系列绝缘缺陷，如绝缘受潮、质量变化差或瓷砖间隙放电。测量电介质的tanδ值便于定量分析绝缘材料的损耗特性，有利于绝缘材料的分析、研究和结构设计。材料的tanδ较大，表明电介质在运行过程中损耗较大，容易发热和老化。例如，胶纸电容式套管具有很高的机械强度，并且尺寸较低，可以做得很短，但往往由于胶水质量不理想，tanδ相对较大，因此很难在超高压系统中使用。蓖麻油可用于直流或脉冲电容器，但由于其tanδ大，不能用于交流电容器。用于冲击测量的连接电缆要求其tanδ必须非常小，否则，当冲击波在电缆中传播时，波形将严重失真并影响测量精度。
但是对于集中缺陷，如果它们占据的体积很小，那么集中缺陷处的介电损耗将占绝缘体总介电损耗的一小部分，此时tanδ法的效果会很差。因此，必须测试套管或变压器的介电损耗因数，但对于电机电缆等设备则不是必需的。在通过tanδ值判断绝缘条件时，必须与设备多年来的tanδ值进行比较，并与相同运行条件下的其他设备进行比较。即使tanδ没有超过标准值，当tanδ在相同操作条件下与过去和其他设备相比突然显着增加时，也必须进行处理。
在绝缘设计中，必须注意绝缘材料的tanδ值。如果tanδ值太大，会引起严重的发热，加速绝缘的老化，甚至可能导致热击穿。在直流电压下，tanδ很小，可用于制造直流或脉冲电容器。
该值反映了绝缘状况，通过测量tanδ=f（ф）的关系曲线可以判断从良好状态转变为劣化状态的过程，因此tanδ的测量是电气设备绝缘测试中的基本项目。
通过研究温度对tanδ值的影响，tanδ值在工作温度下应为最小值，应避免最大值。
极化损耗随频率的增加而增加，特别是当电容器采用极性介质时，极化损耗随着频率的增加而迅速增加。当电源中出现高次（如3次和5次）谐波时，由于过热，很容易引起电容器绝缘材料的击穿。
用于冲击测量的连接电缆绝缘的tanδ必须非常小，否则被测脉冲电压在通过电缆后会发生严重的波形畸变，从而影响测量的精度。
