超低电阻测量：微欧级别测试

电阻从大到小的单位排列：MΩ（兆欧）、kΩ（千欧）、Ω（欧）、mΩ（毫欧）、μΩ（微欧）。通常是用万用表来测试电阻值，但是高阻和超低电阻因为精度和量程的原因，需要用不同的方案来实现。

电阻测试是表征材料特性的最常用测试手段，在某些应用中，用户需要进行极端微小电阻（Ultra-lowresistance）测试，例如：纳米材料，超导材料，继电器开关，低电阻材料、连接器的测试，或者精密的热量测定和研究领域。这些被测件通常具有非常高的导电性和非常小的电阻阻值，对测试连接方案有很大挑战。在进行这类材料和器件的测试过程中，为了最大限度的降低被测设备的自热效应，确保待测件的安全和测量的准确性，通常会使用加流测压的方式，在被测物两端施加可控的微弱精密电流信号，通过欧姆定律测定被测件的电阻阻值。

每次电流极性改变时，测量电压(VM1,VM2,VM3等)。每个电压测量包括恒定的热电压偏移量(VEMF)和线性变化的电压偏移量(δV)。热电压漂移可以近似为短时间内的线性函数，因此电压随时间的变化率(δV)也可以视为常数。前三种电压测量包括以下电压：

其中:VM1、VM2、VM3为电压测量值

假定VM1是在时间=0时取的

V1、V2和V3是被测单元由于施加电流而产生的压降

VEMF是VM1测量时恒定的热电动势偏移量

δV是热电动势的变化

通过三种电压测量的数学计算，可以消除热电动势电压偏移(VEMF)项和热电动势电压变化()项。首先，取前两个电压测量值之差的一半，称之为VA:

然后，取第二次(VM2)和第三次(VM3)电压测量差值的一半，将这个项称为VB:

VA和VB都受到热电动势漂移的影响，但对VA和VB的影响大小相等，方向相反。最终的电压读数是VA和VB的平均值，计算公式如下:

注意，在最后的电压计算中，VEMF和δV这两项都被抵消了。在Delta方法中，每个数据点是三个电压读数的移动平均值。这种对电压测量值的额外平均意味着，Delta法得到的数据比使用电流反转法计算时得到的数据具有更低的噪声，即使这两组数据是在同一时间段内获得的。Delta方法的成功取决于热漂移的线性近似，这必须在短时间内进行。成功地补偿热电动势电压的变化，意味着测量周期时间必须快于待测件的热时间常数。因此，要使得Delta方法成功，必须使用较快的电流源和纳伏表。

我们以一段导线来进行电阻值测试演示：

本次测试仪器是吉时利的2460源表和DMM7510万用表，测试原理是2460源表输出4次7A或者100mA的正反电流，DMM7510测试电压，算出4次的绝对值后的平均值。

仪器读取U盘的控制程序，手动调整测试参数（电流大小、测试总次数），手动保存U盘等。

测试仪器分别接到两端：其中一对是电流通过，另外一对是测试电压。