测量时的操作规定
按接线图接好线，并由专人认真检查接线和仪器设备，当确认无误后，方可通电及升压。
在升压过程中，应密切监视被试设备、实验回路及有关表计。微安表的读数应在升压过程中，按规定分阶段进行，且需要有一定的停留时间，以避开吸收电流。
在测量过程中，若有击穿、闪络等异常现象发生，应马上降压，以断开电源，并查明原因，详细记录，待妥善处理后，再继续测量。
实验完毕、降压、断开电源后，均应对被试设备进行充分放电。放电前先将微安表短接，并先通过有高阻值电阻的放电棒放电，然后直接接地,否则会将微安表烧坏，例如在上图中，无论在哪个位置放电，都会有电流流过微安表，即使微安表短接，也发生由于冲击而烧表现象，因此必须严格执行通过高电阻放电的办法，而且还应注意放电位置。对电缆、变压器、发电机的放电时间，可以其容量大小由1min增至3min,电力电容器可长至5min,除此之外，还应注意附近设备有无感应静电电压的可能，必要时也应放电或预先短接。
若是三相设备，同理应进行其它两项测量。
按照规定的要求进行详细记录。
测量中的问题
在电力系统的交接和防性实验中，测量泄漏电流时，常遇到的主要异常情况如下。
(一)从微安表中反映出来的情况
指针来回摆动。这可能是由于电源波动、整流后直流电压的脉动系数比较大以及试验回路和被试设备有充放电过程所致。若摆动不大，又不十分影响读数,则可取其平均值；若摆动很大，影响读数，则可增大主回路和保护回路中的滤波电容的电容量。必要时可改变滤波方式。
指针周期性摆动。这可能是由于回路存在的反充电所致，或者是被试设备绝缘不良产生周期性放电造成的。
指针突然冲击。若向小冲击，可能是电源回路引起的；若向大冲击，可能是试验回路或被试设备出现闪络或产生间歇性放电引起的。
指针指示数值随测量吋间而发生变化。若逐渐下降，则可能是由于充电电流减小或被试设备表面绝缘电阻上升所致；若逐渐上升，往往是被试设备绝缘老化引起的。
测压用微安表不规则摆动。这可能是由于测压电阻断线或接触不良所致。
指针反指。这可能是由于被试设备经测压电阻放电所致。
接好线后，未加压吋，微安表有指示。这可能是外界干扰太强或地电位抬高引起的。
遇到(3)、(4)两种情况吋，一般应立即降低电压，停止测量，否则可能导致被试设备击穿。
(二）从泄漏电流数值上反映出来的情况
泄漏电流过大。这可能是由于测量回路中各设备的绝缘状况不佳或屏蔽不好所致，遇到这种情况时，应首先对实验设备和屏蔽进行认真检查
例如电缆电流偏大应先检查屏蔽。若确认无上述问题，则说明被试设备绝缘不良。
泄漏电流过小。这可能是由于线路接错，微安表保护部分分流或有断脱现象所致。
当采用微安表在低压侧读数，且用差值法消除误差时，可能会出现负值。这可能是由于高压线过长、空载时电晕电流大所致。因此高压引线应当尽量粗、短、无毛刺。
(三）硅堆的异常情况
在泄漏电流测量中，有时发生硅堆击穿现象，这是由于硅堆选择不当、均压不良或质量不佳所致。为防止硅堆击穿，首先应正确选择硅堆，使硅堆不致在反向电压下击穿；其次应采用并联电阻的方法对硅堆串进行均压,若每个硅堆工作电压为5kV时，每个并联电阻常取为2MΩ。
测量结论
对某一电气设备进行泄漏电流测量后，应对测量结果进行认真、全面地分析，以判断设备的绝缘状况，做出结论是合格或不合格。
对泄漏电流测量结果进行分析、判断可从下述几方面着手。
(一）与规定值比较
泄漏电流的规定值就是其允许的标准，它是在生产实践中根据积累多年的经验制订出来的，一般能说明绝缘状况。对于一定的设备，具有一定的规定标准。这是最简便的判断方法。
(二）比较对称系数法
在分析泄漏电流测量结果时，还常采用不对称系数（即三相之中的最大值和最小值的比）进行分析、判断。一般说来不对称系数不大于2。
(三）查看关系i=f（u）曲线法
利用泄漏电流和外加电压的关i==f（u）曲线，即曲线可以说明绝缘在高压下的状况。如果在实验电压下，泄漏电流与电压的关系曲线是一近似直线，那就说明绝缘没有严重缺陷，如果是曲线，而且形状陡峭，则说明绝缘有缺陷。
(四）空载电流对试验结果的影响
如果试验时天气比较潮湿，绝缘支架受潮、试验回路有尖端毛刺，等尖端放电现象存在，则不带被试品就有较大的空载泄漏电流存在,对试验结果会造成较大的影响，有些人会用先测一下空载电流，然后再带上被试下测出负载试验泄漏电流，用负载试验泄漏电流减去空载泄漏电流的办法进行校正，实际上这是不科学的，因为带上被试品后会改变电位分布，有时会出负载试验泄漏电流小于空载泄漏电流的现象，因而正确的做法是，先不带负载，加压到额定值，看空载泄漏电流在什么水平，如果较小可以忽略不计，如果较大，则应排除造成空载泄漏电流较大的原因，如清擦或烘干绝缘支架，改变微安表的位置，清除试验回路的尖端毛刺，直到空载泄漏电流合格为止。
